硫系，紅外樹脂等材料對可見光不透過，這樣的樣品殘余應力評估很難實現(xiàn)，為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-NIR雙折射測量儀，采用850nm或940nm波長，能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應力分布，安裝既有的操作簡單和實用的軟件WPA-View，可以自由分析任意線上的相位差分布圖形、任意區(qū)域內(nèi)的平均值等的定量數(shù)據(jù)可搭配流水線對應的『外部控制選配』，也可應用于量產(chǎn)現(xiàn)場 主要特點： 紅外波長的雙折射/相位差面分布測量  硫系、紅外透明樹脂等的光學畸變評估  小型、簡単操作、高速測量 WPA-NIR能高速的測量/分析波長為850nm或940nm的雙折射分布 安裝既有的操作簡單和實用的軟件WPA-View 可以自由分析任意線上的相位差分布圖形、任意區(qū)域內(nèi)的平均值等的定量數(shù)據(jù) 可搭配流水線對應的『外部控制選配』，也可應用于量產(chǎn)現(xiàn)場   主要功能： 高速測量面的雙折射/相位差分布   NIR波長僅需操作鼠標數(shù)秒內(nèi)就能獲取高密度的雙折射/相位差信息 測量數(shù)據(jù)的保存/讀取簡單快捷 全部的測量結(jié)果都可以做保存/讀取，易于跟過去的測量結(jié)果做比較等 豐富的圖形創(chuàng)建功能  可以自由制作線圖形和直方圖 測量結(jié)果可以在一個圖形上做比較，也可以用CSV格式輸出     主要參數(shù)： 實際測量對比：