主營(yíng):應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng),空芯光纖,超快激光加工系統(tǒng),Bump晶圓測(cè)量,3D檢測(cè)系統(tǒng)
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隨著技術(shù)的發(fā)展,光學(xué)薄膜的光學(xué)性能也在廠家的不斷提高,市場(chǎng)需要更高等的產(chǎn)品,其中在液晶面板吃起的成產(chǎn)中,也液晶貼的的一層膜的配向角度的優(yōu)良很大程度上影響生產(chǎn)出來(lái)的液晶面板的顯示效果的好壞。關(guān)于如何了解這一層配向膜(PI)的配向角度,研發(fā)人員一直沒有合適設(shè)備來(lái)測(cè)量, 近期,日本的phl廠家?guī)?lái)這款通過測(cè)量雙折射的方法來(lái)檢驗(yàn)配向角度的設(shè)備。
測(cè)量示例:
通過WPA-200的檢驗(yàn),可以知道產(chǎn)品的雙折射大小和方向,內(nèi)應(yīng)力的分布情況,在經(jīng)過分析得到數(shù)據(jù)
電議